GB/T 26655-2011 蠕墨铸铁件

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基本信息
标准名称:蠕墨铸铁件
英文名称:Compacted(vermicular) graphite iron castings
中标分类: 机械 >> 加工工艺 >> 铸造
ICS分类: 冶金 >> 钢铁产品 >> 钢铁铸件
发布部门:中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会
发布日期:2011-06-16
实施日期:2012-03-01
首发日期:2011-06-16
作废日期:
主管部门:全国铸造标准化技术委员会(SAC/TC 54)
提出单位:全国铸造标准化技术委员会(SAC/TC 54)
归口单位:全国铸造标准化技术委员会(SAC/TC 54)
起草单位:山东省淄博蠕墨铸铁股份有限公司、郑州机械研究所、东风汽车公司、日月重工股份有限公司、山东省机械设计研究院、无锡一汽铸造有限公司、西峡县内燃机进排气管有限责任公司、山东精良海纬机械有限公司、沈阳铸造研究所
起草人:文景宝、张忠仇、万仁芳、宋贤发、张志勇、赵新武、韩振中、王云岗、张恒岩、伊立冬、张寅
出版社:中国标准出版社
出版日期:2012-03-01
页数:20页
适用范围

本标准规定了蠕墨铸铁件的术语和定义、牌号、技术要求、取样和试块、试验方法、检验规则及铸件标识、包装和储运等要求。
本标准适用于砂型或导热性与砂型相当的铸型铸造的蠕墨铸铁件。其他铸造方法生产的蠕墨铸铁件,可参照使用。

前言

没有内容

目录

前言 Ⅲ 1 范围 1 2 规范性引用文件 1 3 术语和定义 1 4 牌号 1 5 订货信息 2 6 生产制造 2 7 技术要求 2 8 取样和试块 4 9 试验方法 8 10 复验 8 11 铸件的其他检验 9 12 标识和质量报告 10 13 表面防护、包装、储运要求 10 附录A (资料性附录) 蠕墨铸铁力学和物理性能补充资料 11 附录B(资料性附录) 工艺因素对蠕墨铸铁机加工性能的影响 12 附录C (资料性附录) 蠕墨铸铁的性能特点和典型应用 13

引用标准

下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
GB/T228 金属材料 室温拉伸试验方法(GB/T228—2002,eqvISO6892:1998)
GB/T231.1 金属材料 布氏硬度试验 第1部分:试验方法(GB/T231.1—2009,ISO6506-1:2005,MOD)
GB/T5611 铸造术语
GB/T5612 铸铁牌号表示方法(GB/T5612—2008,ISO15931:2004,MOD)
GB/T6060.1 表面粗糙度比较样块 铸造表面(GB/T6060.1—1997,eqvISO2632-3:1979)
GB/T6414 铸件 尺寸公差与机械加工余量(GB/T6414—1999,eqvISO8062:1994)
GB/T11351 铸件重量公差
GB/T26656 蠕墨铸铁金相检验

所属分类: 机械 加工工艺 铸造 冶金 钢铁产品 钢铁铸件
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【英文标准名称】:StandardTestMethodforDeterminationofImpuritiesinPlutonium:AcidDissolution,IonExchangeMatrixSeparation,andInductivelyCoupledPlasma-AtomicEmissionSpectroscopic(ICP/AES)Analysis
【原文标准名称】:测定钚中杂质的标准试验方法:酸溶解、离子交换矩阵分离和感应耦合等离子体-原子发射光谱法(ICP/AES)分析
【标准号】:ASTMC1432-1999
【标准状态】:作废
【国别】:美国
【发布日期】:1999
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(ASTM)
【起草单位】:ASTM
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:溶解;钚;钚中杂质;感应耦合等离子体-原子发射光谱法(ICP/AES);离子交换分离
【英文主题词】:impuritiesinplutonium;inductivelycoupledplasma-atomicemissionspectroscopy(icp-aes);ionexchangeseparation;plutonium;dissolution
【摘要】:
【中国标准分类号】:F46
【国际标准分类号】:27_120_30
【页数】:4P;A4
【正文语种】:英语


【英文标准名称】:Testingofmaterialsforsemiconductortechnology-Measurementofcarrierlifetimeinsiliconsinglecrystals-Recombinationcarrierlifetimeatlowinjectionbyphotoconductivitymethod
【原文标准名称】:半导体工艺材料的试验.硅单晶中载流子寿命的测量.用光电导法在微小喷射时测量复合载流子寿命
【标准号】:DIN50440-1998
【标准状态】:作废
【国别】:德国
【发布日期】:1998-11
【实施或试行日期】:
【发布单位】:德国标准化学会(DE-DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:电子工程;硅;材料试验;半导体工艺;测量;试验;定义;寿命;元部件;电气工程;半导体工程;半导体;寿命试验;单晶;测量技术;光电导性
【英文主题词】:Carrierlife;Components;Definition;Definitions;Electricalengineering;Electronicengineering;Life(durability);Lifetest;Materialstesting;Measurement;Measuringtechniques;Photoconductivity;Recombination;Semiconductorengineering;Semiconductortechnology;Semiconductors;Silicon;Singlecrystal;Testing
【摘要】:Themethodaccordingtothedocumentcoversthedeterminationoftherecombinationcarrierlifetimeatlowinjectionbythephotoconductivedecaymethod.
【中国标准分类号】:H82
【国际标准分类号】:29_045
【页数】:8P;A4
【正文语种】:德语